OBSERVATION OF THE GROWTH OF OXIDES ON A SILICON SURFACE USING ELECTRON-MICROSCOPY

被引：4

作者：

BEAUVILLAIN, J

CLAVERIE, A

JOUFFREY, B

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0022-0248(83)90340-8

中图分类号：

O7 [晶体学];

学科分类号：

0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;

摘要：

引用

页码：549 / 557

页数：9

共 8 条

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