ULTRASONIC-DETECTION AND SIZING OF TWO-DIMENSIONAL DEFECTS AT LONG WAVELENGTHS

被引：3

作者：

FORTUNKO, CM

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.92242

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：980 / 982

页数：3

共 6 条

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