ELECTRON MICROHOLOGRAPHY BY 2-BEAM METHOD

被引：15

作者：

TOMITA, H

MATSUDA, T

KOMODA, T

机构：

来源：

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1970年 / 9卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1143/JJAP.9.719

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：719 / &

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