RELIABILITY IMPROVEMENT BY THE USE OF MULTIPLE-ELEMENT SWITCHING CIRCUITS

被引：14

作者：

DICKINSON, WE

WALKER, RM

机构：

来源：

IBM JOURNAL OF RESEARCH AND DEVELOPMENT | 1958年 / 2卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1147/rd.22.0142

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页码：142 / 147

页数：6

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共 4 条

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