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OXYGEN VACANCY DIFFUSION IN SNO2 THIN-FILMS
被引:14
作者
:
ADVANI, GN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CARNEGIE MELLON UNIV,CTR JOINING MAT,PITTSBURGH,PA 15213
CARNEGIE MELLON UNIV,CTR JOINING MAT,PITTSBURGH,PA 15213
ADVANI, GN
[
1
]
KLUGEWEISS, P
论文数:
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机构:
CARNEGIE MELLON UNIV,CTR JOINING MAT,PITTSBURGH,PA 15213
CARNEGIE MELLON UNIV,CTR JOINING MAT,PITTSBURGH,PA 15213
KLUGEWEISS, P
[
1
]
LONGINI, RL
论文数:
0
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0
h-index:
0
机构:
CARNEGIE MELLON UNIV,CTR JOINING MAT,PITTSBURGH,PA 15213
CARNEGIE MELLON UNIV,CTR JOINING MAT,PITTSBURGH,PA 15213
LONGINI, RL
[
1
]
JORDAN, AG
论文数:
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0
h-index:
0
机构:
CARNEGIE MELLON UNIV,CTR JOINING MAT,PITTSBURGH,PA 15213
CARNEGIE MELLON UNIV,CTR JOINING MAT,PITTSBURGH,PA 15213
JORDAN, AG
[
1
]
机构
:
[1]
CARNEGIE MELLON UNIV,CTR JOINING MAT,PITTSBURGH,PA 15213
来源
:
INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS
|
1980年
/ 48卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
10.1080/00207218008901117
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:403 / 411
页数:9
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