AUGER LINE SHAPE COMPARISON OF N AND S IN 2 DIFFERENT CHEMICAL ENVIRONMENTS

被引：23

作者：

SICKAFUS, EN ^{[1
]}

STEINRISSER, F ^{[1
]}

机构：

[1] FORD MOTOR CO, SCI RES STAFF, DEARBORN, MI 48121 USA

来源：

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY | 1973年 / 10卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1116/1.1318040

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：43 / 46

页数：4

共 7 条

[1] REEVALUATION OF X-RAY ATOMIC ENERGY LEVELS [J].

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[6]

SICKAFUS EN, TO BE PUBLISHED

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