共 3 条
- [1] EVAPORATED CARBON FILMS FOR USE IN ELECTRON MICROSCOPY[J]. BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1954, 5 (FEB): : 65 - 69BRADLEY, DE
- [2] DYSON J, COMMUNICATION
- [3] Tolansky S., 1948, MULTIPLE BEAM INTERF
THE MEASUREMENT OF THE THICKNESS OF THIN CARBON FILMS
被引：22
作者：
AGAR, AW
机构：
来源：
BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
|
1957年
/
8卷
/
01期
关键词：
D O I：
10.1088/0508-3443/8/1/310
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
页码：35 / 36
页数：2
相关论文