A MICHELSON-TYPE INTERFEROMETER FOR MICROWAVE MEASUREMENTS

被引：10

作者：

LENGYEL, BA

机构：

来源：

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF RADIO ENGINEERS | 1949年 / 37卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1109/JRPROC.1949.234601

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1242 / 1244

页数：3

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共 2 条

[1] MICROWAVE OPTICS
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