DIFFUSION LENGTH MEASUREMENTS IN A-SI-H USING THE STEADY-STATE PHOTOCARRIER GRATING TECHNIQUE

被引：2

作者：

RITTER, D ^{[1
]}

ZELDOV, E ^{[1
]}

WEISER, K ^{[1
]}

机构：

[1] TECHNION ISRAEL INST TECHNOL,DEPT ELECT ENGN,IL-32000 HAIFA,ISRAEL

来源：

JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS | 1987年 / 97-8卷

关键词：

D O I：

10.1016/0022-3093(87)90133-5

中图分类号：

TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

收藏

页码：571 / 574

页数：4

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共 4 条

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