X-RAY DIFFRACTION AND ELECTRON-MICROSCOPIC STUDY OF THIN LAYERSOF YTTERBIUM

被引:14
作者
BOULESTEIX, C
VALIERGUE, L
GASGNIER, M
LABLANCH.CH
机构
关键词
D O I
10.1016/0040-6090(70)90047-7
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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