OBSERVATION OF ATOMIC STEPS OF (111) SURFACE OF A SILICON CRYSTAL USING BRIGHT FIELD ELECTRON-MICROSCOPY

被引:38
作者
IIJIMA, S
机构
关键词
D O I
10.1016/S0304-3991(81)80176-3
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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