DETERMINATION OF CRYSTAL-FIELD PARAMETERS OF LIRF4 (R=TB,HO,ER) BY HIGH-TEMPERATURE SUSCEPTIBILITY MEASUREMENTS

被引：10

作者：

BEAUVILLAIN, P ^{[1
]}

RENARD, JP ^{[1
]}

MAGARINO, J ^{[1
]}

机构：

[1] ECOLE NORM SUPER,PHYS SOLIDES LAB,F-75231 PARIS 5,FRANCE

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-8853(80)90934-8

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：31 / 32

页数：2