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AVALANCHE INJECTION CURRENTS AND TRAPPING PHENOMENA IN THERMAL SIO2
被引：6
作者：
NICOLLIAN, EH
GOETZBER.A
机构：
[1] Bell Telephone Laboratories, Inc.
关键词：
D O I：
10.1109/T-ED.1968.16432
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
[No abstract available]
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