MICROWAVE DIFFRACTION USING SPHERICAL PLASMA - MEASUREMENT OF HIGH ELECTRONIC DENSITIES

被引：1

作者：

ARCHAMBAULT, Y

机构：

来源：

REVUE DE PHYSIQUE APPLIQUEE | 1971年 / 6卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1051/rphysap:0197100602019900

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

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共 3 条

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