NANOSECOND COINCIDENCE MEASUREMENTS

被引：4

作者：

KIRSTEN, FA ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CALIF,LAWRENCE BERKELEY LAB,BERKELEY,CA 94720

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1973.4327348

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：22 / 35

页数：14

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