AN INTERFEROMETER FOR MEASURING GRADIENTS IN BOTH REFRACTIVE INDEX AND THICKNESS OF LARGE OR SMALL OPTICS

被引：6

作者：

SAUNDERS, JB

机构：

来源：

JOURNAL OF RESEARCH OF THE NATIONAL BUREAU OF STANDARDS SECTION C-ENGINEERING AND INSTRUMENTATION | 1969年 / C 73卷 / 1-2期

关键词：

D O I：

10.6028/jres.073C.001

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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