COMPUTER STUDY OF ION-TRAPPING INSTABILITY IN MICROWAVE TUBES

被引：4

作者：

HARTNAGEL, HL

KENDALL, PC

HUTSON, VCL

机构：

来源：

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTION OF ELECTRICAL ENGINEERS-LONDON | 1970年 / 117卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1049/piee.1970.0213

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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