PRESSURE-DEPENDENCE OF ELECTRICAL CONDUCTIVITY OF NIO AT HIGH-TEMPERATURES

被引：9

作者：

STROUD, JE

BRANSKY, I

TALLAN, NM

机构：

[1] SYST RES LABS,DAYTON,OH 45440

[2] AEROSP RES LABS,MET & CERAMICS RES LAB,WRIGHT PATTERSON AFB,OH 45433

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1679322

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：1263 / 1264

页数：2

共 7 条

[1] HIGH-TEMPERATURE DEFECT STRUCTURE OF COO [J].

BRANSKY, I ;

WIMMER, JM .

BRANSKY, I ;

TALLAN, NM .

[3]

BRANSKY I, 1971, 2 P INT C LOW MOB MA

OSBURN, CM ;

VEST, RW .

OSBURN, CM ;

VEST, RW .

[6]

van der Pauw L. J., 1958, PHILIPS RES REP, V1958, P1

[7] CATION SELF-DIFFUSION AND SEMICONDUCTIVITY IN NIO [J].

VOLPE, ML ;

REDDY, J .