EVALUATION OF CORRECTION PROCEDURES USED IN ELECTRON PROBE MICROANALYSIS WITH EMPHASIS ON ATOMIC NUMBER INTERVAL 13 TO 33

被引：12

作者：

BEAMAN, DR

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1021/ac60248a023

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：418 / &

共 55 条

[1]

ADENIS D, UNPUBLISHED DATA

[2]

ADLER I, 1965, D2984 NASA TN

[3]

ARCHARD GD, 1963, XRAY OPTICS XRAY MIC, P393

[4]

BAKISH R, 1965, 1 INT C EL ION BE ED, P799

BEAMAN, DR .

[6]

BELK JA, 1965, 4 INT C XRAY OPT MIC, P9

[7]

BENDER SL, 1964, OCT FALL M EL SOC WA, V2, P104

[8]

BIRKS LS, 1963, ELECTRON PROBE MICRO, P107

[9]

BRIKS LS, 1960, J APPL PHYS, V31, P1297

[10]

BROWN JD, 1965, 6648 US DEP INT BUR