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GERMANIDE FORMATION BY THERMAL-TREATMENT OF PLATINUM FILMS DEPOSITED ON SINGLE-CRYSTAL GE[100] SUBSTRATES
被引:28
作者
:
GRIMALDI, MG
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IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598
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GRIMALDI, MG
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机构
:
[1]
IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598
来源
:
THIN SOLID FILMS
|
1981年
/ 81卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0040-6090(81)90483-1
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
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相关论文
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INFLUENCE OF NATURE OF SI SUBSTRATE ON NICKEL SILICIDE FORMED FROM THIN NI FILMS
OLOWOLAFE, JO
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MAYER, JW
[J].
THIN SOLID FILMS,
1976,
38
(02)
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GROWTH KINETICS OF PD2GE AND PDGE ON SINGLE-CRYSTAL AND EVAPORATED GERMANIUM
OTTAVIANI, G
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LAU, SS
[J].
THIN SOLID FILMS,
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(02)
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Tu K. N., 1978, Thin films. Interdiffusion and reactions, P359
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1ST PHASE NUCLEATION IN SILICON-TRANSITION-METAL PLANAR INTERFACES
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1ST PHASE TO NUCLEATE IN PLANAR TRANSITION METAL-GERMANIUM INTERFACES
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1975, ASTM POWDER DIFFRACT
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共 6 条
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INFLUENCE OF NATURE OF SI SUBSTRATE ON NICKEL SILICIDE FORMED FROM THIN NI FILMS
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[J].
THIN SOLID FILMS,
1976,
38
(02)
: 143
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[2]
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THIN SOLID FILMS,
1977,
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(02)
: 187
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[3]
Tu K. N., 1978, Thin films. Interdiffusion and reactions, P359
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1976,
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1ST PHASE TO NUCLEATE IN PLANAR TRANSITION METAL-GERMANIUM INTERFACES
WITTMER, M
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THIN SOLID FILMS,
1977,
42
(01)
: 51
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59
[6]
1975, ASTM POWDER DIFFRACT
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