IC YIELD PROBLEM - TENTATIVE ANALYSIS FOR MOS-SOS CIRCUITS

被引：13

作者：

BERNARD, J

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1978年 / 25卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1978.19205

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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页码：939 / 944

页数：6

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共 6 条

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