共 1 条
- [1] APPARATUS FOR MEASURING COMPLETE SINGLE-CRYSTAL X-RAY DIFFRACTION DATA BY MEANS OF A GEIGER COUNTER DIFFRACTOMETER[J]. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1955, 26 (05) : 449 - 453FURNAS, TCHARKER, D
ON THE DETERMINATION OF CRYSTAL AND COUNTER SETTINGS FOR A SINGLE-CRYSTAL X-RAY DIFFRACTOMETER
被引：10
作者：
ARNDT, UW
PHILLIPS, DC
机构：
来源：
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA
|
1957年
/
10卷
/
08期
关键词：
D O I：
10.1107/S0365110X57001838
中图分类号：
O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];
学科分类号：
070304 ;
081704 ;
摘要：
引用
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页码：508 / 510
页数：3
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