USE OF A GEIGER COUNTER FOR THE MEASUREMENT OF X-RAY INTENSITIES FROM SMALL SINGLE CRYSTALS

被引：24

作者：

EVANS, HT

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1953年 / 24卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1770645

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：156 / 161

页数：6

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共 4 条

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