VOLTAGE DEPENDENCE OF ELECTRON-IRRADIATION DAMAGE IN ALUMINUM WITH A 3-MV-CLASS ELECTRON-MICROSCOPE

被引：5

作者：

FUJITA, H ^{[1
]}

SUMIDA, N ^{[1
]}

机构：

[1] OSAKA UNIV,FAC ENGN,DEPT MET,SUITA,OSAKA 565,JAPAN

来源：

关键词：

D O I：

10.1143/JPSJ.34.838

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：838 / 838

页数：1

共 4 条

[1] RADIATION-DAMAGE INDUCED BY CHANNELING OF HIGH-ENERGY ELECTRONS [J].

FUJIMOTO, F ;

FUJITA, H .

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH, 1972, 11 (02) :K103-&

[2]

Fujimoto F., 1972, RADIAT EFF DEFECT S, V12, P153, DOI [10.1080/00337577208231136, DOI 10.1080/00337577208231136]

FUJITA, H ;

KATAGIRI, S ;

YOSHIDA, K ;

TABATA, T ;

SUMIDA, N .

[4]

OZASA S, 1972, J ELECTRON MICROSC, V21, P109