FORWARD AND BACKWARD PHOTOEMISSION YIELDS FROM METALS AT VARIOUS X-RAY ANGLES OF INCIDENCE

被引：7

作者：

BERNSTEIN, MJ ^{[1
]}

PASCHEN, KW ^{[1
]}

机构：

[1] AEROSP CORP, LAB OPERATIONS, EL SEGUNDO, CA 90245 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1973.4327380

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：111 / 116

页数：6

共 6 条

[1]

BERGER MJ, 1964, 1133 NAT AC SCI NAT, P205

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