PROBE COMPENSATED NEAR-FIELD MEASUREMENTS ON A CYLINDER

被引：132

作者：

LEACH, WM ^{[1
]}

PARIS, DT ^{[1
]}

机构：

[1] GEORGIA INST TECHNOL,SCH ELECT ENGN,ATLANTA,GA 30332

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TAP.1973.1140520

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：435 / 445

页数：11

共 11 条

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