ENTROPY REDUCTION IN BAYESIAN ANALYSIS OF MEASUREMENTS

被引:19
作者
HURWITZ, H [1 ]
机构
[1] GE CORP RES & DEV, SCHENECTADY, NY 12301 USA
关键词
D O I
10.1103/PhysRevA.12.698
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
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