BREAKDOWN PHENOMENA IN LIQUID-HELIUM

被引：17

作者：

GERHOLD, J

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRICAL INSULATION | 1989年 / 24卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/14.90264

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：155 / 166

页数：12

共 33 条

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