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RELIABILITY EVALUATION OF THICK-FILM RESISTORS THROUGH MEASUREMENT OF 3RD HARMONIC INDEX
被引：7
作者：
KASUKABE, S
TANAKA, M
机构：
来源：
ELECTROCOMPONENT SCIENCE AND TECHNOLOGY
|
1981年
/
8卷
/
3-4期
关键词：
D O I：
10.1155/APEC.8.167
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
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页码：167 / 174
页数：8
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