INTERPRETATION OF X-RAY-DIFFRACTION DATA FROM THIN EPITAXIAL LEAD TIN TELLURIDE CRYSTALS .2.

被引：3

作者：

BICKNELL, RW

机构：

来源：

INFRARED PHYSICS | 1978年 / 18卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0020-0891(78)90022-2

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：133 / 136

页数：4

共 6 条

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BICKNELL, RW .

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