SCINTILLATION CAMERA FIELD UNIFORMITY - VISUAL OR QUANTITATIVE

被引:1
作者
CAHILL, PT
KNOWLES, RJR
BECKER, DV
机构
[1] POLYTECH INST NEW YORK,BROOKLYN,NY 11201
[2] LONG ISL COLL HOSP,BROOKLYN,NY 11201
关键词
D O I
10.1109/TNS.1980.4330878
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:509 / 512
页数:4
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