STATISTICAL SIGNIFICANCE OF TEST METHODS FOR LOW PROBABILITY BREAKDOWN AND WITHSTAND VOLTAGES

被引：4

作者：

TRINH, NG

VINCENT, C

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON POWER APPARATUS AND SYSTEMS | 1980年 / 99卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/TPAS.1980.319664

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：711 / 719

页数：9

共 10 条

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