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MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS OF METAL POWDERS USING ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPY
被引:34
作者
:
FIELD, RD
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
FIELD, RD
FRASER, HL
论文数:
0
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0
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0
FRASER, HL
机构
:
来源
:
METALLURGICAL TRANSACTIONS A-PHYSICAL METALLURGY AND MATERIALS SCIENCE
|
1978年
/ 9卷
/ 01期
关键词
:
D O I
:
10.1007/BF02647183
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
引用
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页码:131 / 134
页数:4
相关论文
共 3 条
[1]
ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY OF THIN-FILMS
GEISS, RH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
GEISS, RH
HUANG, TC
论文数:
0
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0
h-index:
0
机构:
IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
HUANG, TC
[J].
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY,
1975,
12
(01):
: 140
-
143
[2]
KOTVAL PS, 1969, 27TH P EMSA ANN M, P30
[3]
ZALUZEC NJ, 1976, 34TH P ANN EL MICR S, P420
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共 3 条
[1]
ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY OF THIN-FILMS
GEISS, RH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
GEISS, RH
HUANG, TC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
HUANG, TC
[J].
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY,
1975,
12
(01):
: 140
-
143
[2]
KOTVAL PS, 1969, 27TH P EMSA ANN M, P30
[3]
ZALUZEC NJ, 1976, 34TH P ANN EL MICR S, P420
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