共 1 条
- [1] A METHOD FOR THE ELECTRON AND OPTICAL MICROSCOPIC EXAMINATION OF IDENTICAL AREAS[J]. BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1952, 3 (JUN): : 173 - 176HYAM, EDNUTTING, J
A METHOD OF OBSERVING SELECTED AREAS IN ELECTRON AND OPTICAL MICROSCOPES
被引：10
作者：
NANKIVELL, JF
机构：
来源：
BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
|
1953年
/
4卷
/
MAY期
关键词：
D O I：
10.1088/0508-3443/4/5/304
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
页码：141 / 143
页数：3
相关论文