QUANTITATIVE TRACE-ELEMENT ANALYSES IN THICK SAMPLES WITH HEAVY-ION-INDUCED X-RAY-FLUORESCENCE

被引：28

作者：

SHABASON, L ^{[1
]}

COHEN, BL ^{[1
]}

WEDBERG, GH ^{[1
]}

CHAN, KC ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV PITTSBURGH,NUCL PHYS LAB,PITTSBURGH,PA 15213

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1973年 / 44卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1662030

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：4749 / 4752

页数：4

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共 2 条

[1] BROWN R, 1972, AM LAB, V4, P29
[2] X-RAY PRODUCTION BY ALPHA-PARTICLE IMPACT
GARCIA, JD
[J]. PHYSICAL REVIEW A-GENERAL PHYSICS, 1971, 4 (03): : 955 - &