X-RAY DIFFRACTOMETRY OF RADIOACTIVE SAMPLES

被引：7

作者：

KOHLER, TR

PARRISH, W

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1771300

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：374 / 379

页数：6

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共 6 条

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