TRAP DIAGNOSTIC OF THIN CADMIUM-SULFIDE FILMS

被引：2

作者：

LAL, P

机构：

[1] Univ of Zambia, Lusaka, Zambia, Univ of Zambia, Lusaka, Zambia

来源：

关键词：

CADMIUM SULFIDE - TEMPERATURE DEPENDENCE - TRAP DEPTH;

D O I：

10.1016/0040-6090(87)90215-X

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：139 / 143

页数：5

共 7 条

[1]

Bube R.H., 1960, PHOTOCONDUCTIVITY SO

[2]

CHI MH, 1981, J AM CERAM SOC, V64, P61

DIXIT, PN ;

LAL, P ;

SRIVASTAVA, SK .

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH, 1975, 30 (01) :337-343

[4]

LAL P, 1975, J CURRENT SCI, V44, P254

NICHOLAS, KH ;

WOODS, J .

BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1964, 15 (07) :783-&

[6]

Rose A, 1963, CONCEPTS PHOTOCONDUC

[7]

YOSHINO K, 1981, JPN J APPL PHYS, V20, P867, DOI 10.1143/JJAP.20.867