RADIATION HARDENING OF CMOS TECHNOLOGIES - OVERVIEW

被引：17

作者：

BORKAN, H

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1977.4329161

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：2043 / 2046

页数：4

共 11 条

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