ANALYSIS OF SYMMETRIES IN ELECTRON-MICROSCOPE IMAGES OF A SLOPING DISLOCATION AND ITS APPLICATION AS A METHOD FOR DISLOCATION CHARACTERIZATION

被引：17

作者：

INGRAM, JC ^{[1
]}

STRUTT, PR ^{[1
]}

TZENG, WS ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CONNECTICUT,MET DEPT,STORRS,CT

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1974年 / 22卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2210220227

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：599 / 608

页数：10

共 7 条

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