INDUCTIVE MEASUREMENTS OF CRITICAL CURRENT-DENSITY IN SUPERCONDUCTING THIN-FILMS

被引:23
作者
CLAASSEN, JH
机构
关键词
D O I
10.1109/20.92753
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:2233 / 2236
页数:4
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