FRINGE OBSERVATION AND DEPTH OF FIELD IN MOIRE ANALYSIS

被引：6

作者：

KAFRI, O

KEREN, E

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1981年 / 20卷 / 17期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.20.002885

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：2885 / 2886

页数：2

共 7 条

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