ATOMIC IMAGING USING THE DARK-FIELD ANNULAR DETECTOR IN THE STEM

被引：31

作者：

ISAACSON, M ^{[1
]}

KOPF, D ^{[1
]}

OHTSUKI, M ^{[1
]}

UTLAUT, M ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CHICAGO,ENRICO FERMI INST,CHICAGO,IL 60637

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(79)90013-5

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：101 / 104

页数：4

共 5 条

[1]

COWLEY J, 1976, ULTRAMICROSCOPY, V2, P281

[2]

CREWE AV, 1975, PHYSICAL ASPECTS ELE

ISAACSON, M ;

KOPF, D ;

UTLAUT, M ;

PARKER, NW ;

CREWE, AV .

ISAACSON, MS ;

LANGMORE, J ;

PARKER, NW ;

KOPF, D ;

UTLAUT, M .

[5]

RETSKY M, 1974, OPTIK, V41, P127