TEMPERATURE MEASUREMENTS ON DIRECT CURRENT ARGON ARCS FOR DETERMINING TRANSITION PROBABILITIES OF SII- SEI- AND SI-LINES IN NEAR ULTRAVIOLET VACUUM

被引：4

作者：

KREMPL, H

SCHMID, G

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0584-8547(68)80059-X

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

引用

页码：819 / &

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