COINCIDENCE DETECTION AND SELECTION IN POSITRON EMISSION TOMOGRAPHY USING VLSI

被引:13
作者
NEWPORT, DF
DENT, HM
CASEY, ME
BOULDIN, DW
机构
[1] UNIV TENNESSEE,KNOXVILLE,TN 37996
[2] COMP TECHNOL & IMAGING INC,KNOXVILLE,TN
关键词
D O I
10.1109/23.34604
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:1052 / 1055
页数:4
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