共 2 条
- [1] SOME METHODS FOR STRENGTHENING THE COMMON X2 TESTS[J]. BIOMETRICS, 1954, 10 (04) : 417 - 451COCHRAN, WG
- [2] BINOMIAL VARIABILITY IN SHORT-TERM MEMORY[J]. PSYCHOLOGICAL BULLETIN, 1968, 70 (04) : 256 - &MURDOCK, BBOGILVIE, JC
DEPARTURES FROM BINOMIAL ASSUMPTIONS IN SHORT-TERM MEMORY MODELS
被引：3
作者：
GRAMS, W
VANBELLE, G
机构：
关键词：
D O I：
10.1007/BF02306771
中图分类号：
O1 [数学];
学科分类号：
0701 ;
070101 ;
摘要：
引用
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页码：137 / &
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