MECHANISM OF SENSITIVITY REDUCTION IN SELENIUM LAYERS IRRADIATED BY X-RAYS

被引：18

作者：

KALADE, J ^{[1
]}

MONTRIMAS, E ^{[1
]}

RAKAUSKAS, J ^{[1
]}

机构：

[1] V KAPSUKAS STATE UNIV, VILNIUS, LISSR

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE | 1974年 / 25卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2210250232

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：629 / 636

页数：8

共 11 条

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