EVAPORATIVE DEGRADATION OF HGI2 X-RAY DETECTORS

被引：11

作者：

SCOTT, RS

FREDERICKS, GE

机构：

[1] GEN ANAL SAFETY SYST CORP,195 NASSAU ST,PRINCETON,NJ 08540

[2] UNIV TEXAS,DEPT PHYS,AUSTIN,TX 78712

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.88376

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：99 / 100

页数：2

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共 6 条

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