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X-RAY-DIFFRACTION CHARACTERIZATION OF CADMIUM STEARATE LANGMUIR-BLODGETT-FILMS
被引:14
作者
:
MIZUSHIMA, K
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MIZUSHIMA, K
NAKAYAMA, T
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NAKAYAMA, T
AZUMA, M
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AZUMA, M
机构
:
来源
:
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS
|
1987年
/ 26卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
10.1143/JJAP.26.772
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
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页码:772 / 773
页数:2
相关论文
共 3 条
[1]
CULLITY BD, 1956, ELEMENTS XRAY DIFFRA, pCH4
[2]
Guinier A., 1963, XRAY DIFFRACTION
[3]
STRUCTURE STUDY OF MULTILAYER ASSEMBLY FILMS
MATSUDA, A
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机构:
ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
MATSUDA, A
SUGI, M
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ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
SUGI, M
FUKUI, T
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ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
FUKUI, T
IIZIMA, S
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ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
IIZIMA, S
MIYAHARA, M
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ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
MIYAHARA, M
OTSUBO, Y
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机构:
ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
OTSUBO, Y
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1977,
48
(02)
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共 3 条
[1]
CULLITY BD, 1956, ELEMENTS XRAY DIFFRA, pCH4
[2]
Guinier A., 1963, XRAY DIFFRACTION
[3]
STRUCTURE STUDY OF MULTILAYER ASSEMBLY FILMS
MATSUDA, A
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ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
MATSUDA, A
SUGI, M
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ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
SUGI, M
FUKUI, T
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ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
FUKUI, T
IIZIMA, S
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ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
IIZIMA, S
MIYAHARA, M
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ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
MIYAHARA, M
OTSUBO, Y
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机构:
ELECTROTECH LAB, TANASHI, TOKYO, JAPAN
OTSUBO, Y
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1977,
48
(02)
: 771
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