INTERLABORATORY COMPARISON OF INAA OF SEMICONDUCTOR SILICON

被引：4

作者：

SCHULEPNIKOV, MN

RAUSCH, H

DUBNACK, J

BIRNSTEIN, D

NIESE, S

机构：

[1] VEB HALBLEITERWERK FRANKFURT,DIV RES,DDR-1533 STAHNSDORF,GER DEM REP

[2] HUNGARIAN ACAD SCI,CENT RES INST PHYS,H-1525 BUDAPEST,HUNGARY

[3] CENT INST NUCL RES ROSSENDORF,DDR-8051 DRESDEN,GER DEM REP

来源：

JOURNAL OF RADIOANALYTICAL AND NUCLEAR CHEMISTRY-ARTICLES | 1988年 / 122卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1007/BF02037769

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：261 / 264

页数：4