FT-IR CHARACTERIZATION OF SILICON-NITRIDE SI3N4 AND SILICON OXYNITRIDE SI2ON2 SURFACES

被引:53
作者
BUSCA, G
LORENZELLI, V
BARATON, MI
QUINTARD, P
MARCHAND, R
机构
[1] UER SCI,SPECTROMETRIE VIBRAT 320,F-87060 LIMOGES,FRANCE
[2] UNIV RENNES 1,CHIM MINERALE LAB 254,F-35042 RENNES,FRANCE
关键词
D O I
10.1016/0022-2860(86)85316-9
中图分类号
O64 [物理化学(理论化学)、化学物理学];
学科分类号
070304 ; 081704 ;
摘要
引用
收藏
页码:525 / 528
页数:4
相关论文
共 7 条